Graver au Nanomètre avec le nouveau DualBeam au CEMES !

mercredi 10 octobre 2012

Le nouveau Microscope Dual Beam – Faisceau d'ions focalisés, Microscope électronique à balayage financé par le projet EQUIPEX «MIMETIS», est maintenant installé et fonctionnel au CEMES. Avec cet ensemble équipé de nombreux accessoires (injecteurs de gaz, détecteurs multiples, micromanipulateur), nous pouvons à la fois observer mais aussi usiner la matière et créer des structures à l'échelle nanométrique. Cet outil permet d'ores et déjà de préparer des lame minces (entre 30 et 400 nm typiquement) pour la microscopie en transmission avec une précision et une rapidité accrues. Une fois doté de sa platine d'essais micro-mécaniques, il offrira la possibilité, unique en France, de mesurer les propriétés mécaniques d'objets de dimension micro et nanométriques (nanofils métalliques ou nanotubes de carbone par exemple) tout en observant leurs modes de déformation.



 

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